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DSA8300 샘플링 오실로스코프

업계 최고 수준인 450 fs RMS 미만의 기본지터. 최고의 TDR 대역폭. 가장 빠른 S-파라미터 측정 기능. 포괄적인 광통신 표준을 지원하는 환벽한 고속 물리 계층 테스트 플랫폼 입니다.

모델	아날로그대역폭	샘플링속도	레코드길이	데이터시트
DSA8300	DC -70 GHz	300 kS/s	50 Point 3.2M 지점

특징	장점
업계 최저의 노이즈 플로어 (450fs)와 업계 최고의 수직 분해능 (16비트)를 제공하는 트루 디퍼런셜 채널 최대4개 지원	높은 분해능과 낮은 노이즈로 뛰어난 신호 가시성을 제공하는 측정 시스템에서 트루 디퍼런셜 TDR 자극 신호를 사용하여 반도체 및 백플레인/커넥터 디자인의 특성을 정확하게 분석 가능.
원격 샘플링 헤드를 사용한 고대역폭 (50 GHz) TDR(Time Domain Reflectometry)의 정밀 TDR 기능	원격 샘플링 헤드를 사용하여 TDR 헤드를 테스트 대상 장치에 가까이 근접시킴으로써 프로브, 케이블, 픽스쳐의 영향을 최소화 하고, 12 ps의 스텝으로 1mm 수준까지 임피던스 불연속을 분석 가능.
155 Mb/s에서 100 Gb/s의 모든 표준 속도에 대응하는 대역폭, 감도, 노이즈 성능, 반사 손실을 제공하는 광학 모듈	155 Mb/s에서 40 ~ 100 Gb/s를 초과하는 ITU, 이더넷 디자인의 정확하고 반복 가능한 특성화.
직렬 데이터 네트워크, 직렬 데이터링크, 지터 / 노이즈 분석용 소프트 웨어 패키지 옵션	하나의 계측기에 시간 및 주파수 영역 분석 기능이 통합되어 테스트 비용이 절감됩니다. 신호 경로를 정확히 분석하여 신호 crosstalk 및 지터를 예측하여 안정적인 시스템 작동을 보장할 수 있습니다. 지터, 노이즈, BER 분석을 통해 아이 클로저(eye-closure)의 정확한 원인을 판단할 수 있음.
완벽히 통합된 패턴 동기화 트리거링	가장 까다로운 디지털 / 로직 패턴에 대응하는 고속 트리거 기능이 통합되어 정확한 캡처를 보장.
면밀하게 통합된 클럭 복구 기능으로 정확한 아이 다이어그램 분석 가능	완전 통합형 클럭 복구 기능 또는 클럭 복구 트리거 픽오프를 지원하며, 텍트로닉스 또는 타사 클럭 복구 계측기와 함께 사용하면 155 Mb/s ~ 100 Gb/s의 신호 작업을 지원하는 켈리브레이션 완료 솔루션이 구축.

• DSA8200과 DSA8300 샘플링 오실로스코프 간의 프로그래머블 인터페이스 교체
• GPIB와 TekVisa에서 프로그래머블 인터페이스(PI) 주석의 변화를 요약해 놓은 파일입니다.
• 고속 상호 연결: 특성 분석 및 측정 기반 모델링
• 고속 상호 연결의 측정 문제를 다룬 입문서 입니다.
• TDR 및 S-파라미터 측정 ? 필요한 성능은 어느 정도이십니까?
• TDR 기반 측정 툴을 사용하여 S-파라미터 측정을 기존 VNA보다 빠르게 수행하는 방법을 알아보십시오.
• TDR 임피던스 측정: 신호 무결성의 기초
• 최신의 높은 작동 주파수에서 신호의 상승 시간, 펄스 폭, 타이밍, 지터 또는 노이즈 콘텐츠에 영향을 주는 것은 시스템 차원의 신뢰성에도 영향을 줄 수 있습니다.
• 직렬 데이터 적합성 및 검증 측정의 기본
• 직렬 데이터 전송의 일반적인 사항 및 최신 직렬 기술의 아날로그 / 디지털 측정 요구조건에 대해 설명합니다.

P6150	9 GHz 패시브 프로브: 매우 높은 품질의 20 GHz 프로브 팁과 매우 유연한 SMA 케이블로 구성되어 있습니다. 더 높은 주파수 성능이 필요하시다면, 015-0560-00 또는 목록에 있는 다른 액세서리 케이블이 함께 사용 가능함.
P8018	20 GHz 싱글-엔드 TDR 프로브. 정전기 방지를 위해 80A02 모듈이나 TDR 모듈이 권장됨.
P80318	18 GHz 100 Ω 디퍼런셜 임피던스 TDR 핸드 프로브.
80A03	두 개의 텍트로닉스 P7000 시리즈 TekConnect™ 프로브를 DSA8300 또는 DSA8000 시리즈 샘플링 오실로스코프에서 사용 가능함.
P7513/P7516	13 GHz 및 16 GHz TriMode™ 디퍼런셜 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요.
P7260	6 GHz Active FET 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요.
P7350	5 GHz Active FET 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요.
P7350SMA	5 GHz 50 Ω 디퍼런셜-to-싱글 엔드 액티브 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요. 샘플링 목적으로는 높은 대역폭과 신호 충실도 때문에P7350 프로브 보다는 P7380 프로브가 권장됨.
P7380SMA	8 GHz 50 Ω 디퍼런셜-to-싱글 엔드 액티브 프로브. 80A03 인터페이스 모듈 필요.

80A02	DSA8300 EOS/ESD 프로텍션 모듈(1 채널). P8018 TDR 프로브 권장.
80A03	TekConnect 프로브 인터페이스 모듈.
82A04	낮은 지터 획득을 위한 페이즈 레퍼런스 모듈(트리거와 함께 또는 없이) 2 GHz 에서25 GHz까지 신호 가능 (외부 필터는 8GHz 이하로 요구될 수 있음 / 옵션60G를 사용할 경우 60GHz까지 가능).
80A05	일렉트릭 클럭 리커버리/클럭 리커버리. 일렉트릭 신호에 적용 가능 및 80C12와 사용.
80A06	80SJB 지터 분석 패키지를 위한 패턴 싱크 모듈. 223 길이 까지 트리거 펄스 패턴을 생성할 수 있는 프로그램 가능한 분배기.
80A07	일렉트릭 클럭 리버버리 모듈: For all of the most common electrical standards in the continuous 100 Mb/s to 12.5 Gb/s range.
80E01	샘플링 모듈, 50 GHz.
80E03	샘플링 모듈, Dual, 20 GHz.
80E04	샘플링 모듈, 듀얼, TDR 기능을 가진 20 GHZ 일렉트릭 샘플링 모듈.
80E06	샘플링 모듈, 70+ GHz.
80E07	샘플링 모듈, Dual, 30 GHz.
80E08	리모트(remote) 샘플링 모듈,듀얼 채널, 트루 디퍼런셜 TDR의 30 GHZ 일렉트릭 모듈.
80E09	샘플링 모듈; Dual, 60 GHz.
80E10	리모트(remote) 샘플링 모듈, 듀얼 채널, 트루 디퍼런셜 TDR의 50 GHZ 일렉트릭 모듈.
80C07B	옵틱 샘플링 모듈; 2.488 GB/S OC48/STM16,2.500 GB/S 2GBE,2.500 GB/S 인피니밴드,2.5 GHZ 옵틱 대역폭.
80C08C	옵틱 샘플링 모듈; 9.953/10.31 GB/S 10 GBE,10.51875 GB/S 10GFC, 10.664 GB/S G.975, 10.71 GB/S G.709,11.1 GB/S 10 GBE FEC; 10 GHZ 옵틱 대역폭.
80C10B	옵틱 모듈; 39.813/43.018 GBPS/80 GHZ.
80C11	옵틱 샘플링 모듈; 9.953/10.31/10.52/10.66/10.71/11.1 GB/S; 28 GHz Optical Bandwidth
80C12	넓은 파형 길이(700 to 1650 nm) 멀티-레이트 옵틱 샘플링 모듈로 1G, 2G, 4G, 및 8G 텔레컴 및 데이터컴 테스트 지원.
80C25GBE	65 GHz full bandwidth integrated and selectable reference receiver filtering. Enables conformance testing for 27.739G and 25.781G rates.

IConnect? MeasureXtractor™	신호 무결성 TDR 및 S-파라미터 분석 소프트웨어.
80SJNB	지터, 노이즈 및 BER 분석 소프트웨어.